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              • JW18001 LDM老化測試系統
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              產品信息
              產品特點

              1.測試數據閾值自動判定
              2.芯片夾具可定制

              3.測試路數可定制
              4.測試數據圖形化
              5.測試激光器芯片老化
              6.測試時間可設置

              產品概述

              JW18001—LDM老化測試系統,針對激光器芯片,chip, Bar條,裸Die和COC器件的老化過程監控。采用系統架構及分離夾具進行的軟硬件設計,主機安裝在標準19英寸機柜中,分離夾具通過高溫導線與主機相連,營造出實時可控的老化環境。界面操作簡單,數據圖形化。設計有不同種類的老化測試夾具,適合不同封裝,不同尺寸的器件。老化完成后即可直接把夾具整體放到恒溫測試平臺上完成器件的LIV曲線,光譜和消光比的測試。

              • 購買人 會員級別 數量 屬性 購買時間
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